Издательский дом СПЕКТР

Беккер Ю. Спектроскопия

Год издания: 2009. Издание: 1-е. Объем: 528 стр. Формат: 70 х 100 1/16. Вес 870 г ISBN 978-5-94836-220-5 ISBN 978-3-80231-581-2 (нем.)

Цена: нет в продаже

Спектроскопия ядер, атомов, ионов и молекул принадлежит сегодня к группе важнейших и наиболее распространенных методов инструментальной аналитики. Высокотехнологичные эмиссионные, абсорбционные и флуоресцентные спектрометры обеспечивают точное определение качественного и количественного состава газообразных, жидких и твердых веществ, позволяют изучать поверхностные слои материалов, проводить локальный и послойный анализ.
В настоящей монографии дается обзор различных современных методов ядерной, атомной, ионной и молекулярной спектрометрии, а также приборов, реализующих эти методы. Рассматриваются многие аналитические проблемы, решаемые в лабораториях промышленных предприятий, в естественнонаучных и технических учреждениях, а также вопросы изучения и защиты объектов окружающей среды.

Посмотреть содержание ...