Издательский дом СПЕКТР

Брандон Д., Каплан У. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

Год издания: 2006. Издание: 1-е. Объем: 384 стр. Формат: 70 х 100 1/16. Вес 640 г ISBN 5-94836-018-0, 0-471-98501-5

Цена: нет в продаже

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.

Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.

Посмотреть оглавление ...