Издательский дом СПЕКТР

  • Увеличить размер
  • Размер по умолчанию
  • Уменьшить размер
Печать

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography. By D.K. Bowen, Brian K Tanner

Contents:

Introduction- diffraction studies of crystal perfection;

high resolution X- ray diffraction techniques;

analysis of expitaxial layers;

X-ray scattering theory;

simulation of X-ray diffraction rocking curves;

analysis of thin films and multiple layers;

triple axis X-ray diffractometry;

single crystal X-ray topography;

double crystal X-ray topography;

synchrotron radiation topography.

  назад 

 

Баннер
Баннер
Конкурс дефектоскопист

Rambler's Top100 Яндекс цитирования

© 2009-2013, Издательский дом "СПЕКТР". Все права защищены.
logoРазработка концепции и создание сайта - ООО «Издательский дом «СПЕКТР»